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Wire Scanner System für XFEL

Maschine, Diagnose und Instrumentierung

Wire Scanner System für XFEL

Entwicklung: ~2012-2020

Stichworte: basiert auf MTCA.4, Struck SIS8300-L2D Digitizer (Detektor) und DAMC2 (Motoransteuerung), eigene Firmware basierend auf MSK und FEA Frameworks, RTMs durch MDI6 und ZE, Wire Scanner Motor Mechanik und Detektoren mit MDI2 und MDI3, Software DOOCS durch MCS, jddd Panels durch MDI6

Inbetriebnahme: ab 2017

Das Wire Scanner System für den XFEL bietet einen Slow Scan und eine Fast Scan Option. Im Slow Scan Mode wird im Singlebunch Betrieb (1 Bunch/100 ms) ein ausgewählter Draht langsam durch den Strahlweg gefahren. Dieser Mode wird in der Regel beim Aufsetzen der Maschine verwendet (z.B. QuadScan) oder während Maschinenstudien (Vergleiche mit Schirmen, HALO Messungen). Im Fast Scan Mode wird ein Draht mit 1 m/s durch einen langen Bunchtrain gefahren, so dass ca. 100 Bunche den Strahl treffen und so ein vollständiges Profil ergeben.